文章出處:行業動態 網責任編輯: 威斯特姆 閱讀量: 發表時間:2023-04-21
現階段電子產品外觀表面缺陷人力檢驗工作壓力大,效率低并且漏檢率高,現實需要產品缺陷的自動化檢測;實際上檢查中,塑料制品表面在光照強度下會有反光,很大程度影響后續工作;缺點微小并且與制品顏色對比不顯眼,選用直接的閾值難以分割;對于這一情況將機器視覺技術與虛擬儀器緊密結合,依據產品缺陷特點,合理選擇光照方案抑制反光,運用銳化濾波獲取了缺點部位特點清晰的圖像,并對邊緣模糊缺點有效分割;識別結果表明,圖像處理算法穩定,對絕大部分缺點具有良好的檢驗效果。
各種電子產品,成為了經濟發展,國家信息安全的命脈,深深影響著現代人類的生活了.在半導體芯片封裝加工過程中,不可避免地在芯片表面形成各種缺點,直接影響芯片的運作功能及使用壽命。傳統式人力目視檢測法早已無法適應半導體芯片封裝制造的高速,高精度的檢驗需求量.運用機器視覺技術對芯片表面缺陷進行檢驗,有著零接觸無損傷,檢測精度高,速度快,穩定性高等特點.雖然目前基于機器視覺的芯片缺陷檢測技術在芯片打印字符,引腳外觀尺寸位置等方面的研究已取得很好的進展,但對于芯片表面的外觀缺陷檢測與分類研究尚處于起步。
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